カリキュラムモデル
分類番号 E204-030-3
| 訓練分野 | 電気・電子系（E） |
|---|---|
| 訓練コース | ＪＴＡＧを用いた電子回路基板テスト法 |
| 訓練対象者 | 電子回路設計に従事している技術者で、新分野展開・高付加価値化を図る役割を担う者 |
| 訓練目標 | ＪＴＡＧ規格を用いた電子回路基板テスト法について学習し、実習ボードに対して擬似故障を発生させ、それをＪＴＡＧにより確認することで、電子回路基板におけるテスト方法の技能・技術及び関連知識を習得する。 |
| 教科の細目 | 内容 | 訓練時間（H） |
|---|---|---|
| １．ＪＴＡＧの概要 | （１）ＪＴＡＧ（バウンダリスキャン）テストの概要 （２）ＴＡＰ（テストアクセスポート）信号の種類と機能 （３）バウンダリスキャン対応デバイス （４）バウンダリスキャンセル （５）ＴＡＰコントローラステートの説明 |
2.5 |
| ２．命令 | （１）ＥＸＴＥＳＴ命令 （２）ＳＡＭＰＬＥ／ＰＲＥＬＯＡＤ命令 （３）ＢＹＰＡＳＳ命令 （４）ＩＮＴＥＳＴ命令 |
3 |
| ３．バウンダリスキャンテスト | （１）インフラストラクチャ・テスト （２）インターコネクト・テスト （３）クラスター・テスト （４）実習装置の回路図によりテスト内容の確認・評価 （５）プログラミングによるテスト確認・評価 |
6 |
| ４．確認・評価 | （１）実習の全体的な講評および確認・評価 | 0.5 |
| 訓練時間合計 | 12 |
| 使用器具等 | ＪＴＡＧ実習装置、 Ｃ言語コンパイラ、ＪＴＡＧテストツール、その他 |
|---|