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カリキュラムシート

分類番号 D102-007-A

訓練分野 電気・電子系
訓練コース JTAGを用いた電子回路基板テスト技法
訓練対象者 電子回路設計に従事する技能・技術者等であって、指導的・中核的な役割を担う者又はその候補者
訓練目標 電気・電子測定/電気・電子部品検査の生産性の向上をめざして、効率化、適正化、最適化(改善)、安全性向上に向けたJTAGを実装した回路基板のテスト及びプログラミング実習を通して、JTAGを用いた電子回路基板テスト技法を習得する。
教科の細目 内容 訓練時間(H) うち実習・
まとめ(H)
1.コースの概要及び留意事項 (1)コースの目的
(2)専門的能力の現状確認
(3)安全上の留意事項
0.5
2.JTAGの概要 (1)JTAG(バウンダリスキャン)テストの概要
(2)TAP(テストアクセスポート)信号の種類と機能
(3)バウンダリスキャン対応デバイス
(4)バウンダリスキャンセル
(5)TAPコントローラステートの説明
2
3.JTAGのコマンド (1)EXTEST命令
(2)SAMPLE/PRELOAD命令
(3)BYPASS命令
(4)INTEST命令
3
4.テスト実習 (1)インフラストラクチャ・テスト
(2)インターコネクト・テスト
(3)クラスター・テスト
(4)実習装置の回路図によりテスト内容の確認・評価
(5)プログラミングによるテスト確認・評価
6 5.5
5.まとめ (1)実習の全体的な講評及び確認・評価
0.5 0.5
  訓練時間合計 12 6
使用器具等 JTAG実習装置、パソコン、開発環境、JTAGテストツール
養成する能力 生産性の向上を実現できる能力
改訂日 2020.09

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